IC芯片共面度測試儀的工作原理

　IC芯片共面度測試儀引腳的共面性指器件引腳底面不在同一平面的情況。一般用引腳底面離元件引線確定的平面的距離表示。引腳共面性的問題，主要涉及多引腳的器件，如QFP、BGA、連接器等。

IC芯片共面度測試儀的工作原理

測量儀工作原理：被測工件（置于工作臺上）由LED表面光或輪廓光（在底座內）照明后，經變焦距物鏡與彩色CCD攝影機罩殼內攝取被測零件影像，再通過S端子傳送至計算機及顯示器上，軟件在顯示器上產生的視頻十字線為基準，對其進行瞄準測量，通過工作臺帶動光學尺與在X、Y方向上移動，取空間各點坐標值，由轉接卡至計算機，對測量坐標值進行幾何運算，完成各種數(shù)據(jù)量測工作。

IC芯片共面度測試儀的應用領域

本儀器采用測量軟件，能率的檢測各種形狀復雜工件的輪廓和表面形狀，1、元器件共面性測試、引腳移位檢測、引腳高度錯誤檢測、引腳面積測量、直徑、角度、不規(guī)則面積測量、手輪可調節(jié)光柵、非刺眼型光源、高精度XZ軸測距、SPC過程統(tǒng)計如樣板、沖壓件、凸輪，成形銑刀等各種工具，刀具和零件，以及端子、鐘表、金剛石等生產。

應用領域  本儀器采用測量軟件，能率的檢測各種形狀復雜工件的輪廓和表面形狀，1、元器件共面性測試、引腳移位檢測、引腳高度錯誤檢測、引腳面積測量、直徑、角度、不規(guī)則面積測量、手輪可調節(jié)光柵、非刺眼型光源、高精度XZ軸測距、SPC過程統(tǒng)計如樣板、沖壓件、凸輪，成形銑刀等各種工具，刀具和零件，以及端子、鐘表、金剛石等生產。

IC芯片共面度測試儀 儀器特點：  1、機臺核心零部件全部采用產品，整機經過嚴格，規(guī)范的組裝和調試，整機在24小時恒溫間內經300小時不間斷運行負載測試。  2、自準直儀校準機臺機身工作臺裝配工藝，保證機器空間測量高精度。  3、工作臺，經過嚴格熱處理時效，長期使用保證基準面不變形，導軌運行精度穩(wěn)定。  4、采用山東濟南青“00"級花崗石底座，保證機械系統(tǒng)的穩(wěn)定性。  5、采用高精密V型交叉導軌，保證儀器的機械精度。