LCD導電粒子檢查顯微鏡

更新時間：2020-12-29

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系列配合起偏，檢偏及DIC微分干涉，可以很好的觀察屏的導電粒子，確認導電粒子個數是否符合要求。

首先，需要觀察導電粒子必須要有配有DIC及起偏檢偏器的金相顯微鏡。對于觀察導電粒子來說一般選用的鏡頭是要求為不超過20倍為好，超過后會由于景深的問題導致觀察效果模糊，無法觀察到好的效果。

準備好金相顯微鏡及必要的屏后就可以開始觀察導電粒子了。首先把DIC及起偏檢偏拉出，然后把屏放置在載物臺上，調整好焦距，通過載物臺移動后找到觀察位置。現在插入起偏及檢偏器，通過目鏡觀察屏上位置，再調節檢偏器，直到光線黑時停止調節檢偏器。后插入DIC,調節DIC進行偏光直到看到導電粒子清晰時就可以停止了。

產品名稱：導電粒子顯微鏡
產品型號：PZ-JTM-5040H
產品簡介：主要用于LCD、PDP、PCB等相關的光電產業，為其研發、制造提供所需的檢測設備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、測量導電粒子大小、數量等功能

產品特點：

導電粒子顯微鏡是一種兼顧影像與目視兩用的高精度、率測量儀器。它具有電視成像與目視光學兩套瞄準系統，是集光、機、電、算、影像于一體的測量型金相顯微鏡。該儀器廣泛用于電子組件、精密模具、精密刀具、塑料、PCB加工等方面，不僅可用作坐標測量，還可以目鏡標準分劃板作顯微放大比較測量，測量螺紋的節距、外徑、牙角等工件尺寸或外形輪廓，ACF導電粒子形狀和瑕疵觀察，除應用于長度、角度測量外，還可作為觀察顯微鏡。是機械、電子、儀表、鐘表、輕工、塑料行業，院校、研究所和計量檢定部門的計量室、實驗室已經生產車間*的計量檢測設備之一。

1. 符合人機工程學設計準則方便操作測量

2. 工作臺一鍵式氣動單手快速移動操作

3. 可實現Z軸自動對焦

4. 具有偏光和DIC檢測功能

5. 采用被動式減震裝置，提高整機精度穩定性

6. 開發QMS3D-M軟件，高清晰進口1/2"彩色攝像機

7. 可通過激光指示器尋找被測工件的具體位置，可適應復雜工件的測量

8. 可實現高度輔助測量

9. Z軸光柵尺分辨力為0.1μm

10. 同軸光/底光測量

11. 可搭配白光納米檢測模塊測量納米級厚度

規格參數：

規格型號			JTM-5040H
工作臺			玻璃臺尺寸（mm）	570*470
			運動行程（mm）	500* 400
Z軸電動升降行程(mm)			200
光柵尺分辨力(μm)			0.1μm
X、Y坐標示值誤差(μm)			2.5+ L/75 (L為測量長度，單位mm)
影像系統			彩色1/2”CCD攝色機：；結合測量軟件QMS3D-M
顯微鏡系統			三目頭目鏡：10倍濾光片：黃、綠、藍、白量測模式：反射，透射，偏光 5孔物鏡轉換鏡
照明系統			透射照明光源：白光LED，亮度可調同軸照明光源：12V 100W鹵素燈，亮度可調
物鏡
倍率			5X	10X	20X	50X
工作距離 (mm)			18.0	15.0	4.5	11.0
總放大倍率	目視		50X	100X	200X	500X
	19寸視頻		301.625X	603.25X	1206.5X	3016.25X
高度量測模塊（選配件）			白光干涉高度測量模塊(M10-CA),高度量測分辨率0.5 μm (選配):倍率10X，工作距離5mm，光學分辨力2um
其他參數
外形尺寸 (mm)		127011501860
儀器重量 (kg)		850
電源功耗		~220V 50/60Hz < 60W(不包含計算機)

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