導電粒子金相顯微鏡操作使用

導電粒子金相顯微鏡量測著重于高度、高穩定度，品智創思銷售的大行程顯微鏡基座采用花崗巖材質結構，為了克服環境震動問題，采用防震系統，可解決高倍率解析時的震動問題，光學系統采用高清析度影像光學模塊，人性化的量測軟件，長久以來，作業者需花費時間進行量測點位搜尋，使用者設計機型，使操作更便利量測更迅速。

測量顯微鏡工作原理如下圖所示，被測工件置于工作臺上，在底光或表面光照明下，它由物鏡成放大像，經過分光與反射系統后，一路成像于目鏡分劃板上，人眼通過目鏡可觀察到一個放大的正像；另一路成像于彩色CCD上，攝像機攝取工件像后通過網口傳送至計算機及彩色液晶顯示器上，顯示出一個與工件*同向的放大清晰影像。我們可以通過目鏡或液晶顯示器對工件像進行瞄準定位，通過數字測量系統：光柵尺與專業測量軟件對測量數據進行數據處理，即光柵尺的信號與計算機主機通訊，供軟件進行測量和數據處理。目視測量系統還可以利用目鏡分劃板上預先刻制好的標準圖形對工件進行比較測量。底光照明光源與顯微鏡自帶表面光源，視工件的性質兩種照明可分別使用，也可同時使用。

微分干涉數碼顯微鏡是一款性價比非常高的檢測用光學儀器。導電粒子金相顯微鏡采用的遠光學成像系統，內置LED高亮度照明器,引入了微分干涉顯微觀察功能。雙目攝影觀察頭，體現了目視觀察的真實還原，以及數碼攝影與顯微成像的技術融合，觀察到的干涉圖像具有更強的立體感，適合于非透明材質的表面形態觀察，如液晶屏導電粒子的顯微形態。是精密制造領域內品質檢測、結構研究的儀器。 
性能特點 產品采用光學成像系統，可選擇5X、10X、20X等長工作距離平場消色差無應力物鏡，匹配相應的微分 干涉（DIC插板）進行不同倍率的顯微觀察；
照明系統采用高亮度、長工作時間的LED器件，具有結構緊湊、使用安全等特點，特別適合在線檢測的環境要求；采用立柱式高度調整方式，觀察樣品的厚度范圍更大.

何謂ACF(異方性導電膠)：其特點在于Z軸電氣導通方向與XY絕緣平面的電阻特性具有明顯的差異性。當Z軸導通電阻值與XY平面絕緣電阻值的差異超過一定比值后，既可稱為良好的導電異方性。
        貼合工藝：導電粒子在黏合劑中均勻分布,互不接觸,加之有一層絕緣膜,ACF 膜是不導電的,當對ACF膜加壓、加熱后導電粒子絕緣膜破裂,并互相在有線路的部分(因為較無線路部分突起) 擠壓在一起,形成導通,被擠壓后的導電粒子體積是原來的3～4 倍(導電粒子體積不變，差別在于原本是球體狀，經過熱壓后變成類似圓餅狀，讓上下電極有更多的面積接觸到導電粒子),加熱使黏合劑固化,保持導通狀態。
        注意點：導電粒子的粒徑分布和分布均勻性亦會對異方導電特性有所影響。通常，導電粒子必須具有良好的粒徑均一性和真圓度，以確保電極與導電粒子間的接觸面積一致，維持相同的導通電阻，并同時避免部分電極未接觸到導電粒子，導致開路的情形發生。常見的粒徑范圍在3~5μm之間，太大的導電粒子會降低每個電極接觸的粒子數，同時也容易造成相鄰電極導電粒子接觸而短路的情形；太小的導電粒子容易行成粒子聚集的問題，造成粒子分布密度不平均。

         在這邊要先說明何謂微分干涉差系統：用四個特殊的光學組件：偏振器、DIC棱鏡、DIC滑行器和檢偏器。偏振器直接裝在聚光系統的前面，使光線發生線性偏振。在聚光器中則安裝了石英Wollaston棱鏡，即DIC棱鏡，此棱鏡可將一束光分解成偏振方向不同的兩束光（x和y），二者成一小夾角。聚光器將兩束光調整成與顯微鏡光軸平行的方向。初兩束光相位一致，在穿過標本相鄰的區域后，由于標本的厚度和折射率不同，引起了兩束光發生了光程差。在物鏡的后焦面處安裝了第二個Wollaston棱鏡，即DIC滑行器，它把兩束光波合并成一束。這時兩束光的偏振面（x和y）仍然存在。后光束穿過第二個偏振裝置，即檢偏器。在光束形成目鏡DIC影像之前，檢偏器與偏光器的方向成直角。檢偏器將兩束垂直的光波組合成具有相同偏振面的兩束光，從而使二者發生干涉。x和y波的光程差決定著透光的多少。光程差值為0時，沒有光穿過檢偏器；光程差值等于波長一半時，穿過的光達到大值。于是在灰色的背景上，標本結構呈現出亮暗差。為了使影像的反差達到狀態，可通過調節DIC滑行器的縱行微調來改變光程差，光程差可改變影像的亮度。調節DIC滑行器可使標本的細微結構呈現出正或負的投影形象，通常是一側亮，而另一側暗，這便造成了標本的人為三維立體感，類似大理石上的浮雕。